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裝配平板平面度測量方法
1、平晶干涉法測量裝配平板平面度:
平晶干涉法用光學(xué)平晶的工作面體現(xiàn)理想平面,直接以干涉條紋的彎曲程度確定被測裝配平板(鑄鐵平臺)表面的平面度誤差值。
2、光波干涉法測量裝配平板平面度:
光波干涉法常利用平晶進行,可以把干涉圖案作為被檢驗裝配平板表面的等高線,因此可以畫出該表面的形狀。
3、打表測量法測量裝配平板平面度:
打表測量法是將被測零件和測微計放在標(biāo)準(zhǔn)裝配平板上, 以標(biāo)準(zhǔn)裝配平板作為測量基準(zhǔn)面,用測微計沿實際表面逐點或沿幾條直線方向進行測量。
4、液平面法測量裝配平板平面度:
液平面法是用液平面作為測量基準(zhǔn)面,液平面由 “連通罐”內(nèi)的液面構(gòu)成,然后用傳感器進行測量。
5、三坐標(biāo)測量法測量裝配平板(鑄鐵平臺)平面度:
三坐標(biāo)測量機在測量平面度時可以通過測量軟件自動進行平面度誤差計算與分析,完全不需人工計算,大大提高測量效率和準(zhǔn)確率。測量前也可在測量軟件中設(shè)定公差值,當(dāng)測量結(jié)果不在平面度公差帶時,超差數(shù)據(jù)可以用不同顏色顯示。
裝配平板(鑄鐵平臺)平面度測量工具:偏擺儀、百分表、數(shù)據(jù)采集儀、影像測量儀、三坐標(biāo)測量機.所有產(chǎn)品(裝配平板/鑄鐵平臺)達(dá)6個月以上的自然時效,精度確保。